介質(zhì)損耗測量系數(shù)(tgδ)是描述電氣設(shè)備絕緣材料性能的重要參數(shù)，它通常定義為介質(zhì)損耗中有功損耗與無功損耗的比值,一般來說，電器設(shè)備的介質(zhì)損耗系數(shù)越大，其整體絕緣性能也就越差，因此，介質(zhì)損耗測量系數(shù)的精確測量就成為評價電氣設(shè)備絕緣性能的重要技術(shù)手段。
     在傳統(tǒng)測法中,介質(zhì)損耗測量的經(jīng)典方法是西林電橋法，一般嚴格采用50Hz的測試電源，對現(xiàn)場工頻干擾比較敏感,由于需要配置高精度的標準電容器，因此難以實現(xiàn)對高壓電纜的介損測量。
介質(zhì)損耗測試儀的應(yīng)用
     隨著計算機與微電子技術(shù)的發(fā)展，逐漸發(fā)展出基于相位差測量、離散傅立葉分析以及容性電流補償為基礎(chǔ)的數(shù)字式介損測量技術(shù),利用計算機強大的數(shù)據(jù)處理能力，數(shù)字式介損測量設(shè)備原理上不再依賴電容標準器，通過雙頻(工頻/異頻)測量原理,抗干擾能力強，因此廣泛應(yīng)用于離線式和在線式測量場合。
     近年來，隨著對振蕩波試驗技術(shù)的應(yīng)用研究，逐漸衍生出基于衰減時間常數(shù)測量的介損測量技術(shù)，介質(zhì)損耗測試儀主要利用了諧振條件下容抗和感抗相等的原理，根據(jù)經(jīng)典介質(zhì)損耗理論和試驗結(jié)果，提出了交聯(lián)聚乙烯電纜介質(zhì)損耗的三種主要來源：傳導損耗、極化/松弛損耗以及半導電層的電阻損耗，并依次在低頻、中頻和高頻段起主導作用。
     由于交聯(lián)聚乙烯電纜的充電電容及絕緣電阻較大，導致其正常狀態(tài)下的介質(zhì)損耗系數(shù)很小，因此檢測難度較大，檢測精度較低，一般僅用于評價嚴重的絕緣水平降低或故障，對局部性缺陷或早期絕緣故障成果較為復雜。

 

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